Aatomjõu mikroskoopiline analüüs
Aatomjõu mikroskoopiline analüüs, Tallinna Tehnikaülikool, FirstName_67197 LastName_67197.
Teenus
Aatomjõu mikroskoopiline analüüs
Atomic Force Microscopy analysis
  • {{row.Name}}
AFM võimaldab teha objekti pinnast kõrge resolutsiooniga topograafilisi pilte ning tuvastada electrilise potensiaaliga rikastatud juhtivaid piirkondi.
AFM enables high resolution surface topography images and nanoscale surface potential mapping (electrical) measurements.
  • {{item.DisplayName}}
  • Töötlev tööstus
Töötlev tööstus
Production
revathi.naidu@ttu.ee
Kontaktisik: Dr. Marit Kauk-Kuusik, marit.kauk-kuusik@ttu.ee